Түбәндә соңгы технологияләргә, төгәллеккә, чыгымнарга, куллану сценарийларына комплекслы анализ ясала:
. Соңгы ачыклау технологияләре
- ICP-MS / MS кушылу технологиясе
- Принцип: Тандем масса спектрометриясен (MS / MS) оптимизацияләү (мәсәлән, кислотаны ашату яки микродулкынлы эретү) белән кушылып, ppb дәрәҗәсендә металл һәм металлоид пычракларын эзләргә мөмкинлек бирүче матрица комачаулавын бетерү өчен куллана.
- Төгәллек: Ачыклау лимиты кебек түбән0,1 б, ультра-саф металллар өчен яраклы (≥99.999% чисталык)
- Бәясе: equipmentгары җиһаз чыгымнары (~285,000–285,000–714,000 АКШ доллары), хезмәт күрсәтүне һәм оператив таләпләрне таләп итеп
- ICP-OES югары резолюция
- Принцип: Плазма дулкынлануы аркасында барлыкка килгән эмиссия спектрын анализлап пычракларны саный.
- Төгәллек: ppm дәрәҗәсендәге пычракларны киң сызыклы диапазон белән ачыклый (5-6 зурлыктагы заказ), матрица интерфейсы булырга мөмкин.
- Бәясе: уртача җиһаз бәясе (~143,000–143,000–286,000 АКШ доллары), партия тестында гадәти югары чисталык металллары өчен идеаль (99,9% –99,99% чисталык).
- Якты агарту масса спектрометриясе (GD-MS)
- Принцип: Чишелеш пычрануыннан саклану өчен, каты үрнәк өслекләрен турыдан-туры ионлаштыра, изотоп муллыгын анализлый.
- Төгәллек: Ачыклау чикләре ppt-level, ярымүткәргеч класслы ультра-чиста металллар өчен эшләнгән (≥99.9999% чисталык) .
- Бәясе: Бик югары (> $ 714,000 АКШ доллары), алдынгы лабораторияләр белән чикләнгән.
- Рентген фотоэлектрон спектроскопиясе (XPS)
- Принцип: Оксид катламнарын яки пычраклык этапларын ачыклау өчен өслек химик халәтләрен анализлый.
- Төгәллек: Наноскаль тирәнлек резолюциясе, ләкин өслек анализы белән чикләнгән.
- Бәясе: югары (9 429,000 АКШ доллары), катлаулы хезмәт күрсәтү белән.
II. Тәкъдим ителгән ачыклау чишелешләре
Металл тибына, чисталык дәрәҗәсенә, бюджетка нигезләнеп, түбәндәге комбинацияләр тәкъдим ителә:
- Ultra-Pure Metals (> 99,999%)
- Технология: ICP-MS / MS + GD-MS14
- Уңай яклары: Пычраклыкларны һәм изотоп анализын иң төгәллек белән каплый.
- Кушымталар: Ярымүткәргеч материаллар.
- Стандарт югары чисталык металллары (99,9% –99,99%)
- Технология: ICP-OES + Химик Титрация 24
- Уңай яклары: Кыйммәтле (барлыгы 4 214,000 АКШ доллары), күп элементлы тиз табуны хуплый.
- Кушымталар: Индустриаль югары чисталык калай, бакыр һ.б.
- Кыйммәтле металллар (Ау, Аг, Пт)
- Технология: XRF + Янгын анализы 68
- Уңай яклары: деструктив булмаган скринка (XRF) югары төгәллек белән химик тикшерү белән парлаштырылган; гомуми бәя ~71,000–71,000–143,000 АКШ доллары
- Кушымталар: elryвелирлар, бульоннар, яки үрнәк бөтенлекне таләп иткән сценарийлар.
- Чыгымга сизгер кушымталар
- Технология: Химик титрация + үткәрүчәнлек / җылылык анализы24
- Уңай яклары: Гомуми бәя <$ 29,000 USD, кече һәм урта бизнес өчен яисә беренчел скринка өчен яраклы.
- Кушымталар: Чималны тикшерү яки урынның сыйфатын контрольдә тоту.
III. Технологияне чагыштыру һәм сайлау өчен кулланма
| Технология | Төгәллек (ачыклау лимиты) | Бәясе (җиһазлар + хезмәт күрсәтү) | Кушымталар |
| ICP-MS / MS | 0,1 б | Бик югары (> $ 428,000 АКШ доллары) | Ультра-саф металл эз анализы |
| GD-MS | 0.01 шт | Экстремаль (> $ 714,000 АКШ доллары) | Ярымүткәргеч класслы изотопны ачыклау48 |
| ICP-OES | 1 сәг | Уртача (143,000–143,000–286,000 АКШ доллары) | Стандарт металллар өчен партия тесты |
| XRF | 100 сәг | Урта (71,000–71,000–143,000 АКШ доллары) | Деструктив булмаган кыйммәтле металл скринка 68 |
| Химик титрация | 0,1% | Түбән (<14,000 АКШ доллары) | Арзан бәяле санлы анализ |
- Төгәллеккә өстенлек: зур бюджет таләп иткән ультра югары чисталыклы металллар өчен ICP-MS / MS яки GD-MS.
- Баланслы чыгым-эффективлык: ICP-OES гадәти сәнәгать кушымталары өчен химик ысуллар белән берләштерелгән.
- Destимергеч булмаган ихтыяҗлар: Кыйммәтле металллар өчен XRF + ут анализы.
- Бюджет чикләүләре: Химик титрация үткәрүчәнлек / кече һәм урта бизнес өчен җылылык анализы белән бәйләнгән
Пост вакыты: 25-2025 март